El Dr. Mike Bixenman Co-Autor de Tres Artículos que se Presentarán Durante la SMTAi

NASHVILLE — Agosto 2017 — KYZEN se complace en anunciar que el Dr. Mike Bixenman, DBA, es coautor de tres artículos que se presentarán durante la conferencia técnica en la SMTA Internacional. La Conferencia Técnica de la SMTA Internacional está programada para tener lugar en Sept. 17-21, 2017 en el Centro de Convenciones Donald Stephens en Rosemont, IL.

La presentación titulada “Control del Proceso de Limpieza – Un enfoque innovador a un Problema Complejo,” por los coautores Mark McMeen y Jason Tynes, STI Corporation y, David Lober, KYZEN, está programado para tener lugar durante la sesión Spotlight 4 de Control de Proceso. Será presentada por Mark McMeen. 

La Resistencia de Aislamiento Superficial (SIR, por sus siglas en inglés), ha sido comunmente realizada por laboratorios de prueba electrónicos en tablillas específicas de la industria. Con la adopción de componentes con terminaciones por abajo, ha habido un método de control de proceso en el lugar de ensamble para medir la confiablidad electro química. El propósito de esta investigación es desarrollar y validar un método de control de proceso SIR que pueda ser implementado en el lugar de ensamble.

La presentación titulada, “Crecimiento Dendrítico de Contaminación Química y Limpieza Parcial: Fundamentos de la Prueba y Estudio de Aplicación,” por los coautores Bruno Tolla, Ph.D., Denis Jean, Jennifer Allen y Kyle Loomis, KESTER Corporation, y David Lober, KYZEN, tendrá lugar durante la Pista de Flux, Soldadura y Adhesivos el Miércoles 20 de Septiembre  a las 11 a.m. Será presentada por Mike Bixenman.

El propósito de este estudio es analizar a un nivel fundamental el impacto de varios residuos químicos en crecimiento dendrítico y corrosión de trazos conductivos y para correlacionar estos efectos electro químicos con condiciones de aplicación de la vida real. Para este propósito, una tablilla de prueba no estándar permite la cuantificación de la cinética del crecimiento dendrítico entre trazos en forma de Y, en función de las características de los residuos químicos y condiciones ambientales.

La presentación titulada  “Cromatografía de Iones Localizada, Desarrollo del Método y Validación,” por los coautores Mark McMeen y Jason Tynes, STI Corporation y, David Lober, KYZEN, tendrá lugar durante la Sesión de Limpieza el Jueves 21 de Septiembre a las 9:00 a.m.

Tablillas de prueba con componente específico desarrolladas para ambas pruebas CI y SIR localizadas, permiten analizar las respuestas problemáticas de iones y resistencia eléctrica en componentes específicos con terminaciones por abajo. El área donde el componente está ubicado es separada de la tablilla de prueba tal que el componente específico puede someterse a prueba localizada. El propósito de esta investigación es desarrollar y validar prueba de CI localizada. 

El Dr. Mike Bixenman tiene más de 20 años de experiencia en el diseño de materiales de limpieza de ensambles electrónicos e integración de procesos. Tiene la posición de Presidente del Simposio de Limpieza del IPC/SMTA durante los últimos 10 años y es el presidente actual del Grupo de Trabajo del Manual de Limpieza de IPC. El Dr. Bixenman ha obtenido cuatro grados incluyendo un Doctorado en Administración de Empresas.