Akrometrix Responde a las Demandas de la Industria por un Sistema de Metrología de Deformación de Mesa, Ultra Rápido, Justo a Tiempo para productronica

ATLANTA, GA ― Octubre 2017 ― Akrometrix, LLC, el proveedor líder de equipo de metrología para  deformación y tensión térmica para las industrias de electrónica y semiconductores de inicio a fin, exhibirá su más nuevo sistema de metrología de deformación en la Sala A3, Stand 102/01 en productronica 2017, programada para tener lugar en Nov 14 – 17, 2017 en la feria industrial de Munich en Alemania. El nuevo sistema Shadow Moiré de Mesa (TTSM, por sus siglas en inglés) ofrece todas las funciones del software de los sistemas de metrología de deformación térmica de Akrometrix en una unidad a temperatura ambiente la cual proporciona una medición del campo de visión completo en menos de dos segundos.

Akrometrix no es solo el líder de la industria al proporcionar deformación térmica, sino que tiene módulos opcionales para mediciones DIC tensión/CTE y, DFP para superficies discontinuas. Utilizando una nueva combinación de calentadores de por arriba y por abajo con shadow moiré, Akrometrix proporciona una uniformidad de temperatura que no era lograble antes en la industria en una plataforma flexible/configurable. 

El TTSM responde a las demandas de la industria por un sistema de metrología de deformación ultra rápido y de mesa. Permite a los clientes medir deformación en sustratos de hasta 300mm x 310mm (un wafer de 300mm o dos charolas JEDEC) tomando toda la medición menos de dos segundos. Ya sean partes individuales o charolas JEDEC con múltiples partes, el TTSM proporciona una medición ultra rápida y altamente precisa a temperatura ambiente que es apropiada para uso de mesa. 

Para más información acerca de los sistemas de metrología de Akrometrix, por favor contacte a  sales@akrometrix.com o visite www.akrometrix.com.